台式高精薄膜测厚仪 箔片硅片厚度仪

DRK203 台式高精薄膜测厚仪 箔片硅片厚度仪，仪器依据如下标准制作：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777。

DRK203 台式高精薄膜测厚仪 箔片硅片厚度仪，仪器适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

【技术参数】

1. 测量范围：0～3mm
2. 分辨率：0.1μm    精度：1级
3. 测量速度：5次/min（可调）；测头移动速度：3mm/s（可调）

4. 接触面积：28mm (直径6mm）  非标可定制

【产品特点】
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 自动测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、标定压强
7. 标准量块标定测量参数

8. 数据分析功能

山东德瑞克仪器股份有限公司自2004年成立以来始终秉承以技术创新成就企业价值的理念，不断推陈出新。坐落于济南时代总部基地，内设核心研发部，长期从事行业技术探索创新。同时公司与国内外高等院校及科研机构保持合作关系，互利共赢。
公司先后为国内外多个省份及地区提供实验室解决方案及配套设备。业务范围涵盖：科研单位、质检机构、大专院校、医院、化验室、防护fu、包装、造纸、印刷、橡塑、化工、食品、纺织等不同领域。